两槽式冷热冲击箱，一品仪器用结构设计解决温场均匀性难题

冷热冲击试验是产品可靠性验证中的一项关键测试。半导体封装器件在制造过程中可能产生微裂纹，PCB板在焊接过程中产生的热应力，汽车电子在冬季寒冷和夏季高温交替环境中的结构稳定性，都需要通过这项测试来验证。

实现温度冲击的方式主要有两种，两槽式和三槽式。三槽式设备内部设有高温区、低温区和样品区三个腔室，测试时样品区在两个温区之间移动。两槽式设备只有高温区和低温区两个腔室，样品篮带着测试样品在两个腔室之间直接切换，结构更紧凑，能量损失更小。

一品仪器的冷热冲击试验箱采用两槽式结构设计，获得国家专利认可。箱体分为上下两个独立腔室，上部高温区、下部低温区，样品篮通过气动机构在两个腔室之间快速切换。测试时样品篮从高温区切换到低温区的过程在数秒内完成，保证样品经历的温变过程足够剧烈。

两槽式结构的优势直接体现在温场稳定性上。三槽式设备因为样品区需要兼顾高温和低温两个方向的切换，温场的均匀性容易受到影响。两槽式的高温区和低温区各自独立，温度波动范围更小，样品在进入高温区或低温区之后，能够更快进入稳定的温度环境，测试数据的一致性更有保障。

一品仪器的冷热冲击试验箱配备7寸彩色触摸屏，控制系统支持多组程序存储，操作人员设定好测试曲线后可以一键调用。设备支持PC端远程监控与数据导出。安全保护方面，设备具备超温保护、漏电保护、压缩机过载保护等多重防护措施。

在标准符合性上，一品仪器的两槽式冷热冲击箱满足多项国内外测试标准的要求。公司几十名高级研发人员覆盖硬件开发、软件编程和机械结构设计三个方向，在冷热冲击箱的温场控制和风路切换结构上具备独立的研发和优化能力。TCL、比亚迪、国防科技大学等企业和院校均是其长期合作客户。

冷热冲击测试的核心指标有两个：样品切换速度和温场恢复时间。一品仪器用两槽式结构和专利设计把这两项指标做到了高水平，让样品在测试过程中经历足够严苛且足够稳定的温度冲击。欢迎拨打咨询热线18566555562或直接访问官网http://www.dgyipin.com/获取更多信息。